BM8500电路板故障检测仪

SWA1024大规模集成电路筛选测试仪

产地:英国 品牌:英国ABI

SWA1024大规模集成电路三维立体动态阻抗V-I-F测试系统


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1024通道

器件测试图例:


SWA2048f2.jpg


SWA2048f4.jpg
可以放大观看单个管脚PIN

测试通道:

二维V-I动态阻抗端口测试通道:1024路
二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:1024路
三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:1024路
设备可以64通道为步进最大扩充到2048组测试通道

功能用途:

1)集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;
2)可用于集成电路、元器件研发测试;三维立体动态阻抗测试;
3)快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件;
4)对不良器件进行三维动态阻抗失效分析;
5)非加电条件下对集成电路、电路板进行全面的端口动态阻抗测试分析;
6)快速准确定位失效集成电路故障管脚,高效查找故障电路板的失效I/O管脚;
7)测试安全可靠,全面解决器件工艺、电路板工艺问题,快速解决集成电路及电路板故障点定位问题;
8)进行集成电路和电路板阻抗一致性检测;
9)专业操作管理平台:可根据需求编辑测试流程程序,完成自定义化测试,软件管理平台兼容其他厂商设备。测试流程的制定贯穿整个测试过程,使集成电路、电路测试的过程形成标准的测试流程(维修流程、生产流程)。保证了测试工艺的一致性,排除人为因素的干扰。使测试简单、容易、标准化。

技术规格:

二维V-I动态阻抗端口测试通道:1024路
二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道:1024路
三维V-I-F动态阻抗端口测试通道:1024路
设备可以64通道为步进最大扩充到2048组测试通道
实时探笔对比测试通道:4路
同步脉冲信号:4路
测试电压范围:2 V ~ 50 Vp-p;
显示图形模式:V-I、V-T、V-I-F、V-T-F;
信号电流范围: 1 μA to 150 mA
测试阻抗范围 : 100Ω ~ 1MΩ;
三维立体V-I-F测量方式:扫频;
同步脉冲输出模式:单脉冲、双脉冲、三脉冲、四脉冲;
同步信号振幅:可调式由 +10 V ~- 10V;

主要优势:

1)提供软件开发平台,兼容其他厂商测试设备;
2)特有的V-T模式可测量器件的开关时间特性(配合同步脉冲);可设定同步脉冲信号的宽度,进行可控硅元器件或FET的功能测试。可测试三端器件开关时间特性。
3)动态阻抗分析功能,可以对三维图形进行参数的测量;
4)变频或扫频三维立体V-I-F测量方式,三维立体显示器件的端口特性曲线,可以查找与器件频率有关的故障。检查与频率特性有关的器件或集成电路。
5)非加电条件下静态诊断集成电路, 不必外加电源即可进行测试。测试更安全:矩阵式扫频测试,脉冲输出进行的动态V/T测试。
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